Спектры резонансного неупругого рентгеновского рассеяния (RIXS) на Fe -краях поглощения применены для изучения электронной структуры SrFeO и SrFeO. RIXS-спектры SrFeO, по сравнению со спектрами SrFeO, характеризуются менее интенсивными пиками упругой рекомбинации и менее выраженными неупругими спектральными особенностями, что связано с меньшей степенью локализации + L состояний по сравнению с d-состояниями. Особенности неупругого рассеяния RIXS-спектров отнесены к возбуждениям . При более высоких энергиях возбуждения, где возбужденная в континуум флуоресценция становится доминирующей, спектры рентгеновской эмиссии хорошо согласуются с результатами измерения фотоэлектронных спектров валентных полос как SrFeO, так и SrFeO. Показано, что для интерпретации RIXS-спектров феррита SrFeO с трехвалентными ионами железа, находящимися как в октаэдрах, так и в тетраэдрах из ионов кислорода, можно использовать диаграммы Танабе-Сугано.
Индексирование
Scopus
Crossref
Высшая аттестационная комиссия
При Министерстве образования и науки Российской Федерации